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  • EQ-TM106膜厚監測儀

    EQ-TM106膜厚監測儀是采用石英晶體振蕩原理，結合*的頻率測量技術，進行膜厚的在線監測。主要應用于MBE、OLED熱蒸發、磁控濺射等設備的薄膜制備過程中，用于對膜層厚度及鍍膜速率進行實時監測。

    更新日期：2018-11-05
    型號：
    廠商性質：生產廠家
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